X線回折計AL−Y 3500 A

X線回折計AL−Y 3500 A

AL-Y 3500 A回折計は材料研究と工業製品分析のために設計され、通常の分析と特殊目的測定を結合した完全な製品である。

ハードウェアシステムとソフトウェアシステムの完璧な結合は、異なる応用分野の学者、科学研究者の需要を満たす。

• 高精度回折角度測定システム、より正確な測定結果を得る

• 安定性の高いX線発生器制御システムにより、より安定した繰り返し測定精度を得る

• 各種機能付属品は異なる試験目的を満たす必要がある

• プログラム化操作、一体化構造設計、操作簡便、計器外形より美観

  X線回折計は材料の結晶構造と化学情報を明らかにする汎用性試験装置である：

• 未知のサンプル中の1種及び複数の物相同定

• 混合試料中の既知の相定量分析

• 結晶構造解析（Rietveld構造解析）

• 非常規条件下での結晶構造変化（高温、低温条件下）

• 薄膜物相、多層膜厚、表面粗さ、電荷密度を含む薄膜サンプル分析

• マイクロゾーンサンプルの分析

• 金属材料の組織、応力分析