- メール
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電話番号
1316612105513817307074
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アドレス
上海市閔行区剣川路951号滄源科学技術園A棟
製品分類
- 非破壊探傷器-渦電流探傷器（ET）
- マル輪郭計
- 分光器−X蛍光分光器（XRF）
- 非破壊探傷器-位相制御アレイ探傷器
- 非破壊探傷器-TOFD探傷器
- 非破壊探傷器-X線探傷器（RT）
- 非破壊探傷器-磁粉探傷器（MT）
- 分光計-直読分光計（OES）
- 非破壊探傷器-超音波探傷器
- ひょうめんあらさけい
- 分光計−原子吸収分光計（AA）
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- スペクトロメータ
- Bahens硬度計-マイクロビッカース硬度計
- 金相顕微鏡
- Bahens硬度計-邵氏硬度計
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- スチル硬度計
上海百賀計器科学技術有限公司
概要
製品番号：XXQ-2005型製品型番：XXQ-2005型所属類別：無損失探傷器-X線探傷器（RT）所属ブランド：BAHENS-上海百賀所属用途：非破壊検査応用分野：金属製品単位：X線探傷器（配向）XXQ-2005焦点距離600 mm、露光時間5 min、両面鉛箔増
製品詳細
X放射線探傷器（配向）XXQ-2005型の技術パラメータ
1、出力電圧：100～200KV、連続調整可能
2、管電流：5mA
3、焦点寸法：1.5×1.5mm
4、放射線放射角度 40＋5°
5、焦点距離600 mm ,ろしゅつじかん5min、両面鉛箔増感
6、感度：1.5％
7、ネガ黒度：D＞1.5
8、最大貫通力：30mm(A3スチール)
