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低温脆性試験器(半導体)

ネゴシエーション可能更新02/19
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概要

低温脆性試験器(半導体)

製品詳細


一、用途

単試料ゴム低温脆性測定器は、加硫ゴムが所定の条件下で試料が衝撃を受けて破壊された場合の最高温度、すなわち脆性温度を測定するものである。非硬質プラスチック及びその他の弾性材料の低温条件下での使用性能を比較的に鑑定することができる。異なるゴム材料又は異なる配合の加硫ゴムの脆性温度及び低温性能の優劣を測定することができる。そのため、材料とその製品の品質検査を科学的に研究しても。生産過程の制御などの面で不可欠である。本装置はGB/T1682-94国家標準設計の各技術指標は国家標準の要求に合致する。

二、技術パラメータ

2.1試験温度:-60℃—0℃(正常1時間半)水で循環冷却する必要がある

2.2衝撃速度:2m/s±0.2m/s

2.3恒温後、試験3min時間内の温度変動:<±1

2.4インパルス中心からグリッパ下端までの距離:11±0.5mm

2.5外形寸法:720×700×1300mm

2.6電力:1100w

2.7コールドウェル容積:700ml

2.8電源:220V

三、構造原理

3.1リフトホルダ

昇降クランプはクランプ付きシリンダとシリンダホルダからなる

試料の衝撃を受ける部位からホルダ下端までの距離は11.0±0.5mm

3.2しょうげきそうち

衝撃装置は衝撃器と衝撃シリンダからなる

3.3しょうげきそうち

インパルスヘッドの形状とサイズが合っているGB1682標準規定衝撃器の重量は200±20g、その作業ストロークは40±1mm。衝撃シリンダのリセット状態において、衝撃器端部から試料までの距離は25±1mm

3.4れいとうばいたい

一般的に使用される工業用エタノール

3.5本測定器は半導体冷凍を用いた。

四、使用方法

4.1電源を入れ、温度制御器とタイマーの表示灯が点灯します。

4.2冷却井戸に冷凍媒体(一般に工業用エタノール)を注入し、その注入量はチャックの下端から液面までの距離が75±10mm

4.3サンプルをホルダーに垂直に挟みます。クリップは、試料の変形や脱落を防止するために、締めすぎたり緩めすぎたりしてはならない。

4.4試験温度に達したら、起動ボタンを押すと、試験機は自動的に動作する(クランプを押して、試料の冷凍を開始するとともに、起動タイミング制御スイッチまたはストップウォッチを押して計時する。試料の冷凍時間は3.0±0.5min。試料冷凍期間中、冷凍媒体の温度変動は±1℃)

4.5試料を取り外し、試料を衝撃方向に曲げる180°、破壊の有無をよく観察する。

4.6試料が衝撃を受けた後(試料ごとに1回しか衝撃を与えない)、もし破壊が発生した場合、冷凍媒体の温度を高めるべきで、さもなくばその温度を下げて、引き続き試験を行う。

4.7温度調節方法:asetキー、温度制御器が設置状態に入る

b、「<」キーを押して設定する位置に移動

c、「Λ」キーを押して温度を調整する

d、「set」キーで決定

繰り返し試験することにより、少なくとも2つの試料が破壊されない最低温度と少なくとも1つの試料が破壊される最高温度を決定し、この2つの結果の差が以下のように1℃であれば、試験終了となる。

四、しけんひょうじゅん

5.1仕様

試料の長さは25.0±0.5mm、幅は6.0±0.5mm、厚み2.0±0.3mm5.2要件

試料の表面は滑らかで、外来不純物及び損傷がないこと。完成品は磨きをかけて相応の寸法に裁断しなければならない。

六、注意事項

6.1試験中に冷却サイクルを切断することはできません。そうしないと、冷房しない現象が発生します。

6.2シリンダ圧力は出荷前に調整されており、任意に変動することはできません。