レーザ投影光色性能解析器−レーザ表示光学試験システム−LCOSレーザ投影解析システム

レーザー投影光色性能分析器-レーザー表示光学試験システム-LCOSレーザー投影分析システム-SS 445製品の説明：

レーザー投影光色性能分析器-レーザー表示光学試験システム-LCOSレーザー投影分析システム-SS 445はMicrovisonが大画面投影表示測定のために設計した製品で、DLP、LCD、LCOS、映画館スクリーン、および後画面投影器、エミュレータなどのすべての投影技術に適用する。SS 445はコンピュータ制御のPan&Tilt測位システムを採用し、それによって必要なテストポイントに移動し、配置された140万画素CCDカメラは、オートフォーカス機能を持ち、MTF、輝度、均一度、ガンマなどを測定することができ、配置された分光スペクトル放射計は輝度と色度の測定に使用することができる。測定時には、一般的に三脚の上やスクリーンを投影する前のテーブルの上に置き、観察者の角度から測定することで、ユーザー体験をよりよく表現することができます。

動作原理：

Microvision SS 445は、大画面ディスプレイに特化して設計された表示測定システムである。これには、劇場サイズまでの既存の投影エンジン技術を使用した投影ディスプレイが含まれます。このシステムは、電動並進機構と傾斜機構を用いて必要な試験位置に移動する。このシステムは、1.4 MP CCDカメラおよび／または回折格子分光計を構成することができる。操作中、システムは測定対象のモニタの前にあります。グラフィックスジェネレータまたはMicrovisionのMVRemoteは、テストグラフィックスを自動的に表示するために使用されるか、必要に応じて、顧客のシステムは画像を生成することができる。SS 445は、観察者の視点からディスプレイを測定し、実際に見たディスプレイの性能をよりよく表現することを目的としている。表示を完全に定義するために、いくつかの観察者の位置をすばやく測定することができます。オペレータが必要なテストロケーション（X＆Yまたはピクセル座標）を入力する場合、テストは完全に自動化され、システムはこれらのロケーションで選択したテストを自動的に検索して実行します。

レーザー投影光色性能分析器-レーザー表示光学試験システム-LCOSレーザー投影分析システム-SS 445技術パラメータ：

CCDカメラ

• イメージセンサー：1392×1040ピクセル
• デジタルビデオ：12ビット
• 素子サイズ：6.45μm/画素
• 同期性どうきせい:同期キャプチャどうききゃぷちゃ
• フィルター：適光性50%、20%、10%&1%ND
• 標準レンズ：25 mm Cマウント、f 1.6-f 16
• 視野：20mm@1m、調整可能
• 作動距離範囲：0.5 ~ 3.5 m
• 輝度精度：±4%@2856 K Ill.A
• 輝度範囲：0.05～106 cd/m 2（NDフィルター含む）
• 測定時間：多数の測定に対して<1 sec

Spectrometer+Goniometer分光放射計+角計

• 角度計の傾斜角：0 ~ 85°
• 角計方位角：0 ~ 360°
• 波長範囲：380～780 nm（1000 nmオプション）
• 輝度範囲：0.01～500 K cd/m²
• 輝度精度：±3%@2856 K Ill.A
• 輝度繰り返し率：30分超RSD<0.5%、0.01 cd/m²感度@3%RSD
• 色精度：±0.002@2856 K Ill.A
• 色再現率：±0.0005@2856 K Ill.A
• 温度管理：コンピュータ自動制御
• 光学デバイス：12 mmコリメート
• 視野角：1.5°
• デジタル解像度：16 bit A/D
• 積分時間：16.7～5000 msec（sync@60hz)
• 光学分解能：3.8 nm半値幅@100μmスリット
• キャリブレーション：NISTトレーサビリティ
• 操作温度：5 ~ 30℃

Pan&Tilt変位台

• 解像度：0.0032°
• 荷重量：9 lbs

アップグレードオプション：

• 正確な変位台（変位台を組み合わせて、正確に変位して自動試験を実現することができる）
• 測定範囲を上げる（NDフィルタを適用し、感光素子の試験範囲を高める）

テストケース：