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上海市虹口区宝山路778号ヘレン国際ビル5階
二硒化锆晶体 ZrSe2(セレニウムジルコニウム)
晶体尺寸:~8毫米
电学性能:半导体
晶体结构:六边形
晶胞参数:a = b = 0.377、c = 0.614 nm、α = β = 90°、γ = 120°
晶体类型:合成
晶体纯度:>99.995%

ZrSe2シングルクリスタルのX線衍射 (001) の平面に沿ってXRDはD8 Venture Brukerを使用して室温で実行された。4つのXRDピークは,左から右に,l = 1,2,3,4で (00l) に対応します.

シングル結晶ZrSe2の粉末X線衍射(XRD)X線折射はD8 Venture Brukerを使用して室温で行われた。

エネルギー分散X線分光学(EDX)による単晶ZrSe2のストイチオメトリック分析

シングル結晶ZrSe2のラマンスペクトル測定は室温で785nmラマンシステムで行われた。