大スケールで微小粒子蔡司粒子分析器を研究するのは実際の応用のために製造され、日常的な工業品質制御任務を実行する。これを用いて残留汚れ粒子の寸法分布を調べ、金属または非金属粒子または繊維に分類した。ZEISSソリューションはISO 16232とVDA 19に準拠している。立体的発見。V 8は、VDA 19標準に基づいて分析するための選択システムです。5μmとAxioZoomで開始する高度な解析を実行できます。V16。AxioImager 2を使用すると、高度な解析の一環として最適な機器でパーティクルの高さを測定できます。
