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上海捷チタン計器設備有限公司
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上海捷チタン計器設備有限公司

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スプレー粒子分析モニタ

交渉可能更新01/08
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
スプレー粒子分析モニタ$r$nドイツAOMシステムの社名は、「Advance#160 ; Optical#160 ; Measurement#160 ; Systems」、すなわち先進的な光学測定システムに由来し、AOM社はスプレーモニタリング技術の発明者として、スプレーまたは粉体粒子の特性記述に革新的な検出器と測定システムを提供し、2015年ドイツ工業賞を受賞した。このシステムは時間ドリフト技術を用いてスプレーの過程中の液滴あるいは粉体粒子の大きさ、速度、運動量あるいは流量密度などの特性をリアルタイムで監視し、スプレーあるいは粉体粒子の監視に*の測定技術を提供した
製品詳細

スプレー粒子分析モニタ

製品概要:

スプレースパイ®複数の革新が含まれています。*次の測定と監視作業はリアルタイムとその場で行うことができる。

-透明液滴と非透明液滴と粒子の速度と大きさ、液滴運動量、噴霧流量密度の測定、

-液滴分散濃度の測定、

-リアルタイムとその場測定、

-光の道が1つだけ必要です。

-必要に応じて腐食と高圧条件下で測定することが可能である、

-適合根拠DIN スペック 91325噴霧特性化

技術パラメータ:

測定システム:

測定原理:時間ドリフト技術

測定粒子:液滴/こけいりゅうし

測定パラメータ:液滴/固体粒子の大きさ

液滴/固体粒子速度

液滴/固体粒子運動量

流量密度(オプション)

粒子サイズの範囲:1〜1000μm

速度範囲:0.1-100m/s(より高速にカスタマイズ可能)

噴霧の光学特性: 不透明粒子

透明粒子

けんだくえき/乳液

動作距離:〜125mm(他の距離をカスタマイズ可能)

測定体積:〜200µm200μm200μm

信号収集: 後方散乱

レーザー光源:405nm&450nm

レーザー出力: 35mW

レーザー安全性:クラス 3Bレーザー

スプレー粒子分析モニタ

運用環境:

温度:0~+70セ氏度(他の温度範囲をカスタマイズ可能)

IP等級:64(より高レベルのオーダーが可能)

光学ユニットの防爆レベル(オプション):ゾーン 2(カスタマイズ可能ゾーン 1

処理ユニットの防爆レベル(オプション):ゾーン 2

静電環境(オプション):カスタマイズ可能

ハードウェア:

光学ユニット:〜260mm150ミリメートル140ミリメートル

プロセス単位:〜390mm482ミリメートル500ミリメートル19

動作電圧:〜230V

ソフトウェア:

プロセス単位:スプレースパイソフト2015;バージョン> 1.82

備考:AOMスプレーモニタ(スプレースパイ)の型番SS20V125A(オプションを含む)とSS20V125F(オプションなし)

スプレースパイ®位相ドップラー技術、レーザー散乱法と比較すると、以下の通りである:

技術

スプレースパイ®

位相ドップラー技術

レーザ回折法

パラメータ

測定された物理量

りゅうしのおおきさ

速度

うんどうりょう

りゅうりょうみつど

濃度

光学構成

後方散乱(1個の光パスポイント)

前散乱(2個の光パスポイント)

測定された液滴

透明な

/非透明

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使用範囲

研究開発/分析

プロセスモニタリング

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プロセスオートメーション