粒子電位滴定及び粒度分析計

粒子電位滴定及び粒度分析計

異なる測定原理に基づいて、電気泳動法、電気音響法があるゼータ電位、およびスタビノ得られた流動電位を試験する。これらはzui粒子界面の電気二重層に作用するイオン雲のせん断力に由来する電位パラメータとしてよく言及されるが、図のように1。これらの測定された変数はすべてせん断面に位置する粒子と界面電位（PIP）すなわちゼータ電位は比例関係になる。界面電位を確立するためには、電気泳動法または電気音響法によって確立された電場、または機械的力作によって流動電位と電気音響法機器に使用される。これにより、溶液中の外部から緩く付着したイオンが持ち去られ、直接測定可能な界面電位が現れる。

粒子電位滴定及び粒度分析計

電位滴定の目的

粒径区間によっては、Smoluchowski、ヘンリー等式計算ゼータ電位。正確な計算をするにはゼータ電位、粒径範囲は特に注意が必要です。特に100nm以下の粒径範囲内において、ゼータ電位の正確な計算方法は、現在も学界に論争が存在している。果たして1つの数値を得ることが現実に必要かどうかは疑問である。また、ある点のゼータ電位値はサンプル系全体を明確に記述することはできない。界面電位は常にイオン環境に依存しており、厳密には、置かれているイオン環境がなければ、粒子の界面電位も話にならない。

PH 値値のわずかな変化は、それ以前のゼータ電位が高い。そこで、深く研究するゼータ電位は滴定物の滴定曲線に非常に価値がある。これらの滴定物質は、酸アルカリ性物質、イオン性界面活性剤または高分子電解質であってもよい。このことを言うと、多くの価値のある結果は電位滴定によって得ることができ、あるものは懸濁液の安定と不安定な領域を識別するために使用することができ、あるものは重合や粒子反応を引き起こす凝集剤や触媒の使用量を特徴づけるために使用することができる。

流れ電流電位を測定する

駆動ピストンによる円筒内の上下往復運動（図のように2）を使用して、円筒壁とピストン隙間の中の液体が上下に流れます。固定粒子界面に作用するせん断力は、粒子のイオン雲の移動を引き起こす。これらの固定された粒子は、大きな粒子や小さな粒子の器壁への付着によるものもあれば、大きな粒子の不活性によるものもある。試料の底部の穏やかな領域では、イオンの変位はほとんどありません。したがって、円筒の底部と高い部位の発振信号を取得することができる。

多機能

流動電位試験法が適用する粒径範囲は、流動電位がzui一般的な方法、0.3nmの高分子溶液と300μmの粒子懸濁液またはエマルジョンはいずれも流動電位法で測定することができる。この方法により、導電性の範囲がゼロから50mS/cm、サンプル濃度範囲は0.01まで10vol%またはそれ以上です。粘度の上限は300mパス。この粘度では、滴定液を試料に混入する有効性に問題がある。サンプルと滴定液の濃度以外に、他のサンプルパラメータは必要ありません。zuiしかし、同じように重要なのは、ゼータ電位は非常に重要であり、多くの用途では、流動電位に定数因子を乗算することでゼータ電位。

電荷滴定のための流動電位の効率

スタビノ1台の計器に混和、均質化、信号試験の機能を備え、滴定試験をより簡単に有効にした。典型的な滴定サイクルの必要性5-15分です。