日立卓上型電子顕微鏡電子顕微鏡TM 4000/TM 4000 Plus

ネゴシエーション可能更新07/10

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製品詳細

日立卓上型電子顕微鏡製品の紹介：

日立TM 4000走査電子顕微鏡独自の低真空システムにより、サンプルを処理することなく迅速に観察することができます。TM 4000最適化は5 kV、10 kV、15 kVの3種類の異なる電圧下の観察モードを提供し、各モードでは電流4速調整が可能で、そして4分割後方散乱検出器を備え、4つの異なる方向の画像情報を収集し、サンプルに対して多種のモードイメージングを行うことができる。新しいSEM-MAPナビゲーション機能を持ち、同時に、電子顕微鏡画像は報告形式でエクスポートすることができる。最大試料直径80 mm、厚さ50 mmを収容できる大型試料室を備えている。

TM 4000 Plusは、低真空環境下で良好なイメージング品質を有するTM 4000に基づいて高感度低真空二次電子プローブUVDを増加させる。TM 4000 Plusは、二次電子画像と後方散乱電子画像を重畳してリアルタイムに表示し、最も多くのサンプル情報を得ることができる。オプションのアクセサリが豊富で、多くの追加機能を備えています。

主なパラメータ：

1.観察条件：5 kV/10 kV/15 kV（平均4速調整可能）、EDX

2.拡大倍率：10×~ 100000×

3.観察モード：導体（TM 4000 Plus）、標準モード、電荷除去モード

4.検出器：4分割後方散乱検出器、低真空二次電子検出器（TM 4000 Plus）

サービス範囲：

テスト項目 Test Item	サービス範囲 Scope
ミクロ形態観察	顧客の要求に基づいてサンプル指定区域、指定形態を観察し、分析し、倍率＜10,000倍液体及び揮発性物質を試験することができない
要素解析	測定範囲/せいど: Li3~Cf98 適用範囲：高重合体、金属、無機物、粉末など、定性半定量液体及び揮発性物質を試験することができない
だんめんかいせき	1. 破断試料に対して行い、光学顕微鏡と走査電子顕微鏡を用いて観察する 2. しゅはんだんほうしき(靭性、脆性)、クラック源、延伸方向など 3. レポートには切断画像と解析結果が含まれていますが、切断原因を判断することはできません
異物失効解析	金属腐食生成物の分析金属めっき析出物の定性分析媒体汚染異物類の分析
めっき層の厚さ及び成分の定性分析	部分真空めっき0.8μm以下のめっき層厚で行うSEM厚さテスト、最高解像度0.01μm;及び多層めっき線走査成分分析

応用分野：

ライフサイエンス

ざいりょうかがく

かがく

でんしせいぞう

食品工業

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