日立UV-VIS-NIR紫外/可視/近赤外分光光度計UH 4150

特徴：

検出器の波長を切り替えると小さな信号差異が発生し、それでもUH 4150は高精度な測定が可能。

積分球に取り付けられた複数の検出器は、紫外−可視−近赤外の波長範囲で測定することができる。日立の専門的な積分球構造技術や信号処理技術などを用いて、検出器切り替え時（信号レベルの違い）の吸光度値の変化を小さくしている。

日立の高性能プリズム・ラスタデュアルモノクロメータシステムは、低迷光と低偏光を実現します。

UH 4150はプリズム・ラスタ（P−G）デュアルモノクロメータの光学系を採用し、U−4100光学系の特徴を継承している。プリズム−格子（P−G）系は一般的な格子−格子（G−G）系と比較してS及びP偏光強度に大きな変化はなかった。UH 4150は、低透過率及び反射率のサンプルであっても低騒音測定を実現することができる。

平行ビームは反射光と散乱光の正確な測定を実現することができる。

固体試料の鏡面反射率の測定には入射角が重要である。集光ビームについては、レンズの焦点距離などによって入射角が異なるため、導電性多層膜やプリズムなどの光学フィルムのアナログ設計値は実際の測定値とは異なる。

しかし、平行光束については、試料入射角に対して常に同じであり、高精度鏡面反射率の測定を実現した。また、平行光束は拡散率（ヘイズ）の評価やレンズ透過率の測定に用いることができる。

異なる測定目的に適した複数の検出器を提供することができる。

8種類の異なる材料、サイズ、形状の積分球を使用することができます。*2*3

全く新しい人体工学設計を採用している。

モデルルームドアを改良し、操作性を向上させる。サンプル交換や付属品の操作を容易にするため、人間工学に適した設計を採用している。

複数のU-4100アクセサリに対応しています。

汎用アクセサリは2つのモデルに適用されます。U-4100型アタッチメントもUH 4150型*4ではアタッチメントが取り外し可能なため、より多くの測定タイプに適しています。

U-4100型よりも高いサンプルフラックス。

U−4100型光学系の高性能を維持しながら、UH 4150はより高いスループットの測定を提供する。前モデルの機器を1 nmデータ間隔で測定する場合、スキャン速度は600 mm/minでなければなりません。UH 4150型は1200 nm/minの走査速度で1 nm間隔で測定することができ、測定時間を大幅に短縮することができる。*5 UH 4150は約2分以内に240 nmから2600 nmまで測定することができる。紫外−可視−近赤外波長範囲で測定する必要があるサンプル、例えば太陽光反射材料に対して、特に有効である。

システム製品ライン：

積分球検出システム

各種60 mm積分ボールを使用することができます。オプション：150 mm積分球または角度連続可変絶対反射アタッチメント（ここでは60 mm標準積分球を記載）。

直射光検出システム

直射光検出器は分光光度計に内蔵されている。さまざまな積分球や角度連続可変絶対反射アタッチメントなどの直射光検出器の代わりに、他のオプション検出器を提供します。

仕様