ドイツ蔡司電界放出走査電子顕微鏡Sigmaシリーズ製品-華普通用

柔軟な検出、4ステップワークフロー、高度な分析パフォーマンス

高度な解析性能と電界放出走査技術を組み合わせ、成熟したGemini電子光学素子を利用する。複数の検出器を選択可能：粒子、表面、またはナノ構造のイメージングに使用します。Sigma半自動の4ステップワークフローは大量の時間を節約する：イメージングと分析ステップを設定し、効率を高める。

鮮明な画像化のための柔軟な検出

• 先進的なプローブを使用して、すべてのサンプルを特徴づけるために、あなたのニーズにSigmaをカスタマイズします。
  

• in−lens二重検出器を用いて形態と成分情報を取得する。
  

• 次世代の2次検出器を利用して、最大50%の信号画像を取得します。可変圧力モードでSigmaによる革新的なC 2 Dと可変圧力検出器を用いて、低真空環境下で85%のコントラストまでの鋭い画像を取得した。
  

自動加速ワークフロー

• 4ステップワークフローでは、Sigmaのすべての機能を制御できます。マルチユーザー環境では、高速イメージングと節約トレーニングからまずサンプルをナビゲートし、次にイメージング条件を設定します。

• まず、サンプルをナビゲートしてから、イメージング条件を設定します。
  

• 次に、サンプルの関心のある領域を最適化し、画像を自動的に収集します。最後にワークフローの最後のステップを使用して、結果を視覚化します。
  

高級分析型顕微鏡

• 走査電子顕微鏡と基本分析を結合：Sigma一流の後方散乱幾何学検出器は分析性能を大幅に向上させ、特に電子ビームに敏感なサンプルである。

• 検出ビーム流の半分と速度の2倍の条件下で分析データを取得する。

• 8.5 mmの短い分析作業距離と35°の角度のおかげで、完全で影のない分析結果を得た。
  

成熟したGemini技術に基づく

• Geminiレンズの設計と組み合わせて、電場と磁場が光学性能に与える影響を考慮し、試料に対する磁場の影響をより低くする。これにより、磁性試料をイメージングしても優れた効果を得ることができる。
  

• Gemini in−lensの検出は信号検出の効率を確保し、二次検出（SE）と後方散乱（BSE）素子によって同時にイメージング時間を減少させる。
  

• Gemini電子ビーム加速器技術は、小さな検出器サイズと高い信号対雑音比を確保した。

鮮明な画像化のための柔軟な検出

• 新しいプローブ技術を用いてすべてのサンプルを特性化した。
  

• 高真空モードでは革新的なETSEとin-lens検出器を用いて形態と高解像度の情報を取得する。
  

• 可変圧力モードでは、可変圧力二次電子とC 2 D検出器を用いて鋭い画像を取得する。
  

• aSTEM検出器を用いて高レート透過画像を生成する。
  

• BSDまたはYAG検出器を用いて成分分析を行う。

部品

SmartEDX

統合されたスペクトル分析ソリューションをお届けします

SEMイメージング技術だけでは部品やサンプルを完全に理解できない場合、研究者はSEMにエネルギースペクトル計（EDS）を用いて顕微分析を行う必要がある。低電圧用途に最適化されたエネルギースペクトルソリューションにより、元素化学成分の空間分布情報を得ることができます。メリット：

• 従来の顕微鏡分析用途を最適化し、窒化ケイ素窓の優れた透過率のため、軽元素の低エネルギーX線を検出することができる。

• ワークフローブートのグラフィカルなユーザーインタフェースにより、使いやすさとマルチユーザー環境での再現性が大幅に改善されます。

• 蔡司エンジニアがインストール、予防的メンテナンス、保証のワンストップサービスを提供する完全なサービスとシステムサポート。

ラマンイメージングと走査電子顕微鏡の併用システム

完全に集積化されたラマンイメージング

データにRamanスペクトルとイメージング結果を追加して、より豊富な材料特性化情報を得ることができます。蔡司Sigma 300を拡張し、共焦点ラマンイメージング機能を持たせることで、サンプル中のユニークな化学指紋情報を取得し、その成分を特定することができます。

• 分子及び結晶構造を識別するための情報

• 3 D分析が可能であり、必要に応じてSEM画像、ラマン面スキャンイメージング、EDSデータを関連付けることができる。

• 完全統合RISEにより、先進的なSEMシステムとラマンシステムによるメリットを体験できます。