原子間力顕微鏡liteScope

liteScope™

LiteScope™独自の走査プローブ顕微鏡（SPM）。 さまざまな走査電子顕微鏡（SEM)を開きます。 グループ化コンプリメンタリSPMとSEM技術は両者の利点を利用できるようにする。使用LiteScope™その交換可能なプローブシリーズは、表面形態、機械的性質、電気的性質、化学成分、磁気的性質などの特徴を含む複雑なサンプル分析を容易に行うことができる。LiteScope™の設計により、他のSEM部品結合使用集束イオンビーム（FIB）又はガス注入系統合（GIS）ナノメートル製造用/微細構造と表面改質。この組み合わせでは、LiteScope™製造された構造物を迅速かつ簡便に3Dけんしゅつ。また、LiteScope™相関顕微鏡、いわゆる相関プローブと電子顕微鏡（CPEM）。CPEM技術は市場初の技術である。 同じ場所で行うことができますSPMとSEMそくてい，同時に、同じ協調システムを使用します。 のみCPEMテクノロジーがもたらすものSPMとSEM技術関連イメージングのすべての利点。

特徴

• LiteScope™向上性エネルギーのSEMアップグレード

• 既存の顕微鏡のプラグインとして、または新規のSEMさせる用

• 独自の相関プローブと電子顕微鏡（CPEM）技術

• 複雑な表面特性評価-形態、粗さ、磁性、導電性、電気性エネルギー

• 自己誘導プローブ、光学検出不要、レーザー調整不要
  

• LiteScope™インストールが容易SEMのサンプル台に/サンプルテーブルから取る出

• 互換性FIB，GIS，EDXなど部品

• 傾斜位置（角度0°-60°），最小動作距離5ミリメートル

• 伸縮可能な測定ヘッドはサンプル周囲の空間を解放することができる

• 市販のプローブは種類が多い測定モード

• プローブの迅速かつ簡単な交換サンプル

• ユーザーフレンドリーなソフトウェア、Webブラウザでの操作、簡単なリモートアクセス

• LiteScope™独立したSPM使用

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• 相関プローブと電子顕微鏡- CPEM

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LiteScope™は既存ですSEM機器の働き方の強力な強化機能。 しかし、それ以上の内容があります。相関顕微鏡は、2つの異なる技術を用いて同じ物体の画像化に対する利点を組み合わせている。個別の画像からのデータの依存性は、サンプルに関するより詳細な情報を提供します。そうしないと、これらの情報は複雑すぎて解析できません。NenoVision独自の技術を開発した-関連プローブ及び電子顕微鏡（特許出願中）-相関イメージングに使用します。CPEMを通じてSEMとSPMサンプル領域の表面特定同じ協調系を同時に使用することを特徴とする統。






CPEM技術は今まで得られていない方法で標準を対することができるSEMとSPMメソッドによる相関イメージング。CPEMスキャン領域、解像度、画像歪みを同期し、リアルタイムで収集されたSPMとSEM画像。

既知の一定オフセットと同じ解像度の同時スキャンを使用すると、同じ表面上で解析が実行されることが確実になります。私たちのNenoView生成された画像をオンラインで直接表示するソフトウェア。