70 nm超高分解能キャリブレーション標本（forAFM、SEM、Auger、FIB）

ストライプ70nm間隔、1次元配置、±まで正確0.25nm。証明書を持つか持たないかの2種類があります。証明書の間隔は、証明書の実際の数字を参照する必要があります。超高分解能顕微鏡（25kx〜1000kx）の水平方向の正確なキャリブレーション、およびナノスケールでの正確なキャリブレーション機器などが挙げられる。高い安定性と高い適用性特性を有する。

シリコンウェハのサイズ：4×3×0.5mm、パターンシリカ製造（リッジ幅35nm、高さ35nm、このパラメータにはキャリブレーションがありません)。

提供される製品には、次の2つのモデルがあります。モデル 70-1D和モデル 70-1DUTCを選択して設定できます。モデル 70-1Dキャリブレーションサンプル,製造元付き資格認定,遡及不可能モデル 70-1DUTCキャリブレーションサンプル,認証,トレーサビリティー,証明書の提供（PTB、NISTのドイツの対応機関）。

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