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上海海向計器設備工場
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上海海向計器設備工場

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15℃/min急速温度変化試験箱225 L高低温急速切替限界エージング試験

ネゴシエーション可能更新06/23
モデル
メーカーの性質
生産者
製品カテゴリー
原産地

概要

急速温度が15度毎分変化し、急速昇降温度実験、限界試験、製品の耐熱耐寒及び冷熱交互下の性能に適している。

製品詳細

15℃/min急速温度変化試験箱225 L高低温急速切替限界エージング試験



一、製品の概要:

この設備は学校、工場、軍需産業、科学研究機関、実験室、大学などの機関に適用され、各種電子元気部品の高温、低温または高低温交互環境下での各性能指標、貯蔵と使用の適応性を測定する。

二、技術パラメータ:

モデル/名前

HXKB-225 L-15急速温度変化試験箱

おんどはんい

-70℃~200℃

こうおんそくど

-60 ~ 100℃、15℃/分

100 ~ 180℃、≧5℃/分

しょうおんそくど

100 ^-60℃,≦15℃/分

180 ~ 100℃,≦5℃/分

おんどへんどうど

±0.5℃

内胆寸法

600*500*750 mm(幅*奥行き*高さ)

外形寸法

1200*1500*1850(幅*奥行き*高さ)

れいきゃくほうしき

すいれい

でんあつ

380 V/50 Hz三相五線方式

せいぎょシステム

全自動PLCインテリジェント制御、7インチカラータッチスクリーン、リアルタイムフィードバック温度

三、箱体構造:

l箱体の造形は美しく上品で、デジタル制御工作機械を用いて加工成形し、そして無反作用ハンドルを採用し、操作が簡便である。


lケース内胆には高級ステンレス鋼(SUS 304)ミラーパネル、箱体は冷間圧延鋼板を用いて静電噴霧成形し、外観質感と清潔度を増加した。


l大型観測窓付き照明灯は箱内を明るく保ち、発熱体に埋め込まれた強化ガラスを利用して、いつでも箱内の状況をはっきりと観測する。筐体の左側には試験孔が設けられており、外付け試験電源線や信号線に使用することができる。(穴径または穴数は注文を増やす必要がある場合に説明する)。マシンの底部には高品質固定式PU可動ホイールが採用されている。

四、制御システム:

l7インチプログラマブルカラータッチコントローラ。


l大画面タッチスクリーンモードのスクリーン画面を採用し、スクリーン操作が簡単で、プログラム編集が容易である。


lコントローラの操作インタフェースは、運転曲線図が画面に表示されても、英語で選択できます。


lある100組のプログラム1000段999サイクルステップの容量、時間ごとの設定値は99時間59分である。


l資料及び試験条件が入力された後、コントローラはスクリーンロック機能を有し、人為的なタッチによるダウンタイムを回避する。


lあるPID自動演算機能は、温度変化条件を直ちに修正し、温度制御をより正確に安定させることができる。


lあるRS-232またはRS-485通信インタフェース、コンピュータ上でプログラムを設計し、試験プロセスを監視し、スイッチ機能を実行することができます。


l接続可能なプリンタまたは485通信インタフェース、コンピュータで表示し、温度と時間曲線を印刷し、試験過程データを再生に保存するために有力な保証を提供する。

五、冷凍システム:

l冷凍機はフランス製の原装を採用している「泰康」全密閉圧縮機。


l冷凍システムは単機低温回路システム設計を採用した。


l多翼式送風機を用いて強力な送風循環を行い、死角を回避し、試験区域内の温湿度分布を均一にすることができる。


l風路循環出風戻り設計、風圧、風速はすべて試験基準に符合し、ドアを開けた瞬間の温度を安定させる時間を速くすることができる。


l昇温、降温は完全に独立して効率を高め、テストコストを下げ、寿命を伸ばし、故障率を下げることができる。

六、基準を満たす:

lGB-2423.1-89(IEC 68-2-1)試験A:低温試験方法。

lGB-2423.2-89(IEC 68-2-2)試験B:高温試験方法。

lGJB 360.8-87(MIL-STD-202 F)高温寿命試験。

lGBJ 150.3(MIL-STD-810 D)高温試験方法。

lGJB 150.4(MIL-STD-810 D)低温試験方法。

lGB/T 2423.2-2008試験B「高温試験方法」

lGB 10586-89低温試験箱技術条件

lGB/T 10592-89高低温試験箱技術条件

lGB 10592-89高低温試験箱技術条件

lGB 11158高温試験箱技術条件

lGB 2423.1-89電工電子製品基本環境試験規程試験A:低温試験方法

lGB 2423.2-89電工電子製品基本環境試験規程試験A:高温試験方法

lIEC 60068-2-1.1990低温試験箱試験方法

lIEC 60068-2-2.1974高温試験箱試験方法